試樣準備:
1、 準備至少3片試樣,直徑大小應大於(yu) 40mm,厚度12.5mm
2、 用鋒利介刀在每個(ge) 區域處割取幾塊尺寸足夠大小一樣的試樣;
3、 如試片不夠平整用研磨機將需要準備的試樣上下表層磨平,保持試片上下相互平行;
4、 將磨好的試片放在溫度為(wei) (23±2)℃相對濕度50%的標準環境中至少3h;
測試步驟:
1、將儀(yi) 器放置於(yu) 水平的平台麵上,調節儀(yi) 器水平度;
2、調整高度把砝碼升至一定的高度處。
2、取出已準備好的試樣。
3、移出試片夾具,放置試片時,應注意使落點距離試片邊緣14mm處。
4、首先試測三次數據,觀察砝碼是否*自由落體(ti) 狀態,肉眼觀察數據穩定性,確定儀(yi) 器*水平後,開始試樣測試。
5、保證在相同的位置測試3次每次反彈高度的平均值作為(wei) 產(chan) 品最終評估數據值。
故障情形 | 可能原因 | 排除辦法 |
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